IOL间歇寿命试验系统

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华科智源-IOL间歇寿命测试系统,测试各种封装的MOSFET、IGBT、三极管、Diode(小电流器件)进行连续工作寿命和间歇工作寿命试验。间歇工作寿命试验利用芯片的反复开启和关闭引起的反复高温和低温,加速芯片内各种组件材料和结合面的热机械应力,验证封装、内部键合等承受由芯片操作引起的热机械应力能力。

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  • 品牌: 华科智源
  • 名称: 间歇寿命试验系统
  • 型号: HK-IOL-16H
  • 用途: 间歇工作寿命试验利用芯片的反复开启和关闭引起的反复高温和低温,加速芯片内各种组件材料和结合面的热机械应力,验证封装、内部键合等承受由芯片操作引起的热机械应力能力。

  • 产品参数
  • 品牌: 华科智源
  • 名称: 间歇寿命试验系统
  • 型号: HK-IOL-16H
  • 用途: 间歇工作寿命试验利用芯片的反复开启和关闭引起的反复高温和低温,加速芯片内各种组件材料和结合面的热机械应力,验证封装、内部键合等承受由芯片操作引起的热机械应力能力。


★主要技术规格和性能:
产品型号  HK-IOL-16H
产品名称间歇寿命试验系统
符合标准

试验线路及试验方法满足MIL-STD-750、GJB128及AEC-Q101相关标准要求

适用于各种封装形式的二极管、三极管、MOSFET、IGBT等器件的间歇寿命试验和稳态寿命试验。

试验通道16个 (一板一区)
试验容量40×16=640位
基本功能①每个通道提供一组独立程控电源。
②对于三极管、MOSFET器件试验,可提供部分工位Tj检测或全部工位Tj检测。二极管试验提供全部工位Tj检测。
③对于二极管,每工位试验电流范围为0~15A,并联后最大可提供60A试验电流。MOSFET及IGBT器件试验每工位18W试验功率。只需减少试验工位,就可增加器件的试验功率。
④可使用外部电源。如配置TDK、安捷伦等品牌电源。
计算机工业级电脑主机、液晶显示器、专用键盘及鼠标。WINDOWS操作界面,友好的人机对话窗口, 强大的图形编辑能力以及强大的器件库供用户选择,软件操作简单易学。更有系统查询诊断功能, 试验状况一目了然,方便用户随时查验。
老化板老化板采用子母板的方式,只需更换子板即可试验不同封装的器件。
电网要求单相AC220V±10%,47Hz~63Hz,6KW
外形尺寸W1620mmхH1820mmхD1320mm
重量约600kg


IOL间歇寿命试验系统
华科智源-IOL间歇寿命测试系统,测试各种封装的MOSFET、IGBT、三极管、Diode(小电流器件)进行连续工作寿命和间歇工作寿命试验。间歇工作寿命试验利用芯片的反复开启和关闭引起的反复高温和低温,加速芯片内各种组件材料和结合面的热机械应力,验证封装、内部键合等承受由芯片操作引起的热机械应力能力。
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