IGBT动态参数测试仪

IGBT的测试包括静态参数测试、动态参数测试、短路测试、热阻测试等,华科智源的IGBT的动态参数测试仪测试IGBT动态参数有开关时间T(on)、Td(on)、反向恢复时间,栅电荷,短路电流等;

型号 : HUSTEC-2015
品牌 : 华科智源
名称 : IGBT动态参数测试仪
用途 : 芯片设计,封装,来料检验,失效分析

测试系统以2000A为一个电流模块,以1500V为一个电压模块,电流电压可升级;

内置4组标准电感(20/50/100/200uH)负载可选用, 另有外接负载接口,可实现不同电感和电阻负载测试需要;
测试驱动和测量矩阵外置,通过测试夹具设计实现,可灵活实现对不同结构模块的测试需求
可实现室温到200度变温测试,也可实现子单元测试功能;
测试软件具有调试模式和生产模式,测试数据可存储为Excel文件及其他客户需要的任何数据格式;
门极电阻可任意调整, 系统内部寄生电感<70nH(个别模块至小可达50nH左右);
系统测试性能稳定,适合大规模生产出货测试应用(24小时连续工作);
本测试系统通过自动传送装置把被测器件搬运到测试区进行测试,完成测试后,自动送回;
测试平台具有一定人员安全保护能力,以防高压电对使用者造成伤害。